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装置別適用例×ソリューション技術 半導体製造装置向けFPC特集
半導体製造装置向けFPC特集

半導体製造装置の高度化・小型化に伴い、装置内配線に求められる性能は年々厳しくなっています。山下マテリアルは、「多品種少量」の技術力で、お客様の装置課題に最適な FPC ソリューションをご提案します。

アプリケーション別モデルケース

各機器・ユニットでの典型的な課題と、山下マテリアルがご提供できる関連技術を整理しています。

成膜装置

成膜装置
モデルケース

チャンバー周辺センサー/駆動部の配線集約

よくある課題
真空・温度条件下で、センサー線や駆動系配線を省スペースにまとめたい。
要求される性能
高耐熱・環境耐性/ノイズ対策/メンテ性(取り回し)

リソグラフィ装置(コータ/デベロッパ等)

リソグラフィ装置(コータ/デベロッパ等)
モデルケース

多点センサー+制御線の高密度化

よくある課題
多点センサー・アクチュエータの配線が増え、ハーネスが複雑化しがち。
要求される性能
高密度配線/狭小部の実装性/ノイズ低減

露光装置(ステッパ/スキャナ等)

露光装置(ステッパ/スキャナ等)
モデルケース

ステージ周りの高速・低ノイズ配線

よくある課題
高速信号とノイズ対策を両立しつつ、可動部の組付け性も確保したい。
要求される性能
高速伝送(損失・反射抑制)/EMI・EMS対策/低反発(組付け性)

ダイボンダ装置

ダイボンダ装置
モデルケース

実装ヘッド周辺の高密度配線・実装

よくある課題
限られたスペースで多信号・多機能を集約し、実装性も確保したい。
要求される性能
高密度実装/配線集約(多層化)/安定した接続品質

洗浄装置

洗浄装置
モデルケース

装置内センサー接続・取り回し改善

よくある課題
装置内の配線が煩雑で、点検・交換作業の負荷が高い。
要求される性能
取り回し自由度/省スペース配線/保守性

ウェハー検査装置

ウェハー検査装置
モデルケース

検査ヘッド~制御部の高速信号配線

よくある課題
高速信号の品質(損失・ノイズ)が歩留まり・検査精度に影響する。
要求される性能
低損失伝送/ノイズ対策/高密度接続

SoCテスト装置

SoCテスト装置
モデルケース

多チャネル・高速デジタルの配線集約

関連する FPC 製品・技術

よくある課題
チャネル数増加で配線密度が上がり、ノイズ・反射も効きやすい。
要求される性能
高速伝送/高密度配線/組付け性

メモリテスト装置

メモリテスト装置
モデルケース

高密度接続+安定した信号品質

よくある課題
高密度接続と信号品質の両立が要求され、配線・実装条件がシビア。
要求される性能
高密度実装/インピーダンス配慮/ノイズ低減

対応技術紹介

各モデルケースを支えるFPC技術群です。「詳細をみる」から各技術の製品ページ・カタログへアクセスいただけます。

各技術の「狙い」と「使われるケース」を要点で整理しています。詳細スペックや実績データは、各製品ページ・カタログをご参照ください。

MSAP FPC(微細配線技術)

微細回路形成(MSAP 工法)によって、高密度配線・高密度実装を実現。微細配線が求められる装置内配線に適用できます

使われるケース

リソグラフィ、ダイボンダ、各種テスト装置

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低損失FPC

材料選定(LCP・PTFE 等)や伝送路構成の最適化で、高速伝送における損失を低減。半導体検査装置での採用実績があります。

使われるケース

露光、ウェハー検査、SoC/メモリテスト

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ボタンめっきFPC

スルーホール/ランドのみをめっきし、導体厚みの均一性を確保。精度の高いインピーダンスコントロールが可能で、高速伝送用途に最適です。

使われるケース

露光、ダイボンダ、各種テスト装置

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狭ピッチパッドオンビアFPC

狭ピッチの小型パッドに直接ビアを設け、高密度実装を実現。省スペースでの多ピン接続に対応します。

使われるケース

リソグラフィ、ダイボンダ、ウェハー検査

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高密度高多層FPC

配線を多層で集約し、限られたスペースで多ピン・多信号をまとめる用途に最適。ハーネス部を折り曲げて使用できます。

使われるケース

リソグラフィ、ダイボンダ、洗浄装置(制御線集約)

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低反発高速伝送FPC

ストリップライン構造をベースにノイズ対策を行いながら、組付け性(低反発)も両立。ウェハ測定機・ウェハ検査機等でのノイズ対策に有効です。

使われるケース

露光、ウェハー検査、成膜(可動部・組付け性)

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大電流FPC BigElec

バスバー/ワイヤーハーネス代替を想定したフラット形状の大電流配線向け FPC。プラズマエッチング装置や搬送装置での採用実績があります。

使われるケース

成膜(ヒーター・駆動)、洗浄(ポンプ・駆動)、搬送系

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装置×技術 クロスリファレンス

各装置タイプと推奨技術の対応表です。○:主要推奨、△:用途に応じて推奨

MSAP 低損失 ボタンめっき 狭ピッチ 高多層 低反発高速 Big Elec All LCP
成膜
リソグラフィ
露光
ダイボンダ
洗浄
ウェハー検査
SoCテスト
メモリテスト